剖析溫度沖擊試驗(yàn)箱低溫對(duì)試樣產(chǎn)生的影響

溫度沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)所需的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)及高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

當(dāng)溫度沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備低溫狀態(tài)下，不同試驗(yàn)物料會(huì)出現(xiàn)不同的物理收縮現(xiàn)象，可能使活動(dòng)部件轉(zhuǎn)動(dòng)不靈活,甚至互相卡死，可能會(huì)讓一些像鋼、塑料等試驗(yàn)樣品變的比較脆，并發(fā)生脆裂損傷，假如試驗(yàn)樣品是類似橡膠的材料，低溫會(huì)降低試樣的彈性，并且增加其硬度。

在試驗(yàn)箱設(shè)備中高溫也會(huì)讓塑料材料的形態(tài)發(fā)生變化，當(dāng)設(shè)備溫度過(guò)低的情況會(huì)讓電解液變得凝固，這樣可能會(huì)導(dǎo)電解電容、電池等沒(méi)有辦法正常工作，設(shè)備溫度低也會(huì)曾大潤(rùn)滑油的粘度，流動(dòng)能力下降，降低其的潤(rùn)滑功能，會(huì)使活動(dòng)部件之間的摩擦力曾大，甚至?xí)?dǎo)致其凝結(jié)成冰，這樣不僅會(huì)影響設(shè)備的啟動(dòng)性能以及影響電子產(chǎn)品是否能夠正常啟動(dòng)，同時(shí)引發(fā)儀表出現(xiàn)誤差，再者試驗(yàn)箱設(shè)備低溫會(huì)使電子產(chǎn)品的絕緣或密封用漿液熔化損失、潤(rùn)滑脂熔化損失，從而導(dǎo)致一系列的損壞。

試驗(yàn)箱設(shè)備低溫也會(huì)加劇聚合物材料和絕緣材料老化和劣化的速度，并且會(huì)縮短相關(guān)產(chǎn)品的使用壽命。

剖析溫度沖擊試驗(yàn)箱低溫沖擊對(duì)試件的影響之后，大家盡量避免試驗(yàn)箱持續(xù)處于低溫的狀態(tài)，減少其對(duì)試驗(yàn)物件的影響，也可以避免影響設(shè)備的試驗(yàn)效果，由于試驗(yàn)物件都具有一定熱脹冷縮的物理現(xiàn)象，所以設(shè)備高溫也會(huì)對(duì)試件造成一定的影響。